製品

• 半導体ウェーハ外観検査装置
• 計数器・パーツカウンター
• 画像処理ライブラリ
• 汎用画像処理装置
• 位置決め装置
• 温湿度モニタリングシステム

• 半導体ウェーハ外観検査装置

  半導体、パワー半導体・ワイドバンドギャップ半導体・化合物半導体（例：Si、SiC、GaN、GaAs、InP、LT/LN）などのウェーハ欠陥をミクロン・サブミクロンレベルで高感度・高速に全数検査を実現するマクロ検査装置です。

  

• 計数器・パーツカウンター

  部品計数作業を、画像処理により補助し効率化するパーツカウンターシステムです。従来、電子秤で計数が難しく人手で行っていた計数作業を画像処理技術により自動化し、現場の負荷を削減すると共に、異物検知や計数作業の記録化といった機能により、現場作業の品質を向上させます。

  

• 画像処理ライブラリ

  パタンマッチングや空間フィルタなどの基本的な画像処理機能から最新技術までを包含したライブラリで、検査、計測、認識、位置合わせ等の機能開発要望にお応えします。ファースト社が開発したライブラリであり適確・親切なサポートをお約束します。

  

• 汎用画像処理装置

  高い信頼性と高速性を両立したファーストの汎用画像処理装置は、ソフトウエアと組み合わせることであらゆる画像処理ソリューション（検査、計測、認識、位置合わせ等）を実現します。豊富な画像処理ライブラリがユーザ独自のプログラミングを支援します。

  

• 位置決め装置

  高機能・高精度位置決め用画像処理装置です。ワークを基準位置に合わせ込むための XY θ補正量を計算し、ステージの軸制御を行います。手間なく簡単に構築でき、導入期間を劇的に短縮し仕様変更（カメラの位置や向き、軸構成）が変更されても同じ装置で対応できます。

  

• 温湿度モニタリングシステム

  産業用メッシュ無線搭載温湿度センサーを使ったモニタリングシステムです。測定場所に設置し電源を入れるだけで多点同時測定を開始、製造現場の温湿度を素早く把握、長期運用時は約5年間電池交換不要、配線工事や測定場所変更や増減時の現場負担を軽減します。