サイトマップ

製品・サービス

生産現場

人依存の工程を自動化

製品

自動面取り装置(ティーチングレス)

工程作業連動コントローラー TriMath（トリマス）

材料袋のデパレタイズロボット

部品の個包装ロボット

ソリューション

洗濯機ピッキング・デパレタイズ

室外機 ピッキング・仕分け

鉱石 ピッキング・仕分け

予知保全・品質改善

製品

異常検知・設備診断システム

時系列データ自動分析マシン

CSVファイル 可視化・加工ツール（無料）

簡単IoTエッジデバイス ParaRecolectar

サービス

モノづくりDX 計画作成講座

ソリューション

AEセンサによる設備異常の予兆監視

計測・検査

フラットパネル検査装置

フラットパネル検査装置 FV-pixellence

ウェーハ欠陥検査装置

Si ウェーハ 欠陥検査装置

SiCウェーハ 欠陥検査装置

LT/LNウェーハ欠陥検査装置

ガラスウェーハ 欠陥検査装置

ウェーハ パターン 欠陥検査装置

マスクブランクス 欠陥検査装置

SiC 潜在欠陥拡張検査装置（UV-EVI：UV Expand Visualize Inspection)

計数・計測機器

手挿入基板検査装置 キバンミル

計数器・パーツカウンター

温湿度モニタリングシステム

装置メーカー

画像処理ソフト

AIプラットフォーム

AIプラットフォーム

画像処理ライブラリ

画像処理ライブラリ WIL

画像処理ライブラリ FAST Vision ActiveX Components

画像処理ライブラリ FAST Vision Library for LNX

画像処理ライブラリ FIE for Raspberry Pi 無償提供

画像処理ライブラリ FIE for Linux / FTL for Linux

画像処理ライブラリ PyFIE

画像処理ハード

画像入力ボード

CoaXPress画像入力ボード FVC10b

Camera Link（Base）画像入力ボード FVC08CLB

Camera Link（Base/Medium/Full）画像入力ボード FVC07

32点フォトカプラ絶縁I/Oボード FV-II320 / FV-II320-PNP

画像処理装置

画像処理装置 FV1420

画像処理装置 FV2350

画像処理装置 FV1410

画像処理装置 FV2340

位置決め装置

位置決め・アライメント FV-alignerⅡ

計測・検査システム

印刷検査システム

印刷検査システム FV-flowence

三次元計測システム

3D計測・検査システム(ロボットビジョン) FAST-3DPackage

3D計測・検査システム(光切断) FV-SurfaceFinder

塗布検査システム

塗布検査システム

設計

評価ボード・開発キット

評価ボード（FMC）

HDMI2.1 FMCカード

ピンヘッダ FMCカード

D-PHY対応MIPI FMCカード

12G-SDI FMCカード

DisplayPort 1.4 FMCカード

8Lane V-by-One HS LVDS FMCカード

評価ボード（FPGA）

ザイリンクスFPGA搭載 SoC開発向け評価ボード

ザイリンクスFPGA搭載 4K2Kビデオ評価ボード

ザイリンクスFPGA搭載 8K4K評価ボード

インダストリアルグレードSoM評価キット

開発キット

研究開発用途 超高速プロジェクタ DynaFlash

量産モジュール・IPコア

V-by-One HS IPコア (ザイリンクス FPGA 対応)

Zynq SoC インダストリアル対応 SoM

MECHATROLINK-III IPマスタ/スレーブコア (ザイリンクス/ラティス FPGA 対応)

設計・製造受託

FPGA/マイコン 開発ソリューション

TI Arm®-Cortex® ベース MCU/MPU シリーズ開発

FPGAロジック設計

FPGAを用いたMIPIインタフェース開発

PCIe接続アクセラレータカードの開発

DSPを使用した高速デジタル信号処理ボードの開発

高速アナログフロントエンドとFPGA開発

i.MX シリーズ開発

MSP432E4開発

C2000™ リアルタイム・マイコン開発

サービス

FPGA設計受託

量産受託

医療機器　開発・製造

開発受託 オンライン相談サロン

量産受託 オンライン相談サロン

実装メーカー切り替え支援サービス

その他 ソリューション

USBインターフェースの設計開発

アナログ回路の設計開発

フィールドネットワーク開発

パワー半導体を用いた開発

電源IC設計セミナーとサポート環境

SoMを活用した開発

筐体設計

Depthセンシング製品開発

オプトエレクトロニクスを活用した開発

DLP®製品開発

パワーエレクトロニクス関連受託開発

inreviumについて

導入事例

設計開発・EMSジャーナル

スマートファクトリージャーナル

ニュース・イベント

サポート

資料ダウンロード