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新着ニュース

• 2026/04/28

  お知らせ

  【モデルベース開発ソリューション】「FPGA開発にモデルベースデザインを持ち込んだ結果」を掲載しました

• 2026/04/20

  お知らせ

  【計測・検査・位置合わせ】「ライティングとフォトメトリックステレオ法の最前線 ―― CCS × TED 技術対談「第1弾」」を掲載しました

• 2026/04/14

  お知らせ

  【計測・検査・位置合わせ】「共創パートナーに聞く！ 電流を流さずに“光”で欠陥をあぶり出す SiC通電劣化を再現する評価装置、開発への道のり」を掲載しました

• 2026/04/14

  ニュース

  東京エレクトロンデバイスとアイテス、 SiCデバイスの潜在欠陥をウェーハレベルで可視化する検査ソリューションで協業 ～UVレーザー技術を用いた新製品「SiC潜在欠陥検査装置／通電劣化シミュレーター ITS-SCX100」の開発・販売により材料評価リードタイムを短縮し、 高信頼なSiCデバイス開発を支援～

• 2026/04/09

  ニュース

  理化学研究所SPring-8向け次世代X線画像検出器「CITIUS」のFPGAデータ処理基板を開発 ～実験データを約8,600分の1に圧縮、測定しながら結果を確認できるFPGAデータ処理基盤を実現～